产品名称：eb系列毫米波探针台
产品型号： EB-6V
- 产品简介
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总体规格特点：
重量：80kg（含显微镜）。
尺寸：760mm宽*660mm长*700mm高（含显微镜）。
优化的人体工学设计，便于工程师长时间舒适操作。
显微镜操控规格：
显微镜后侧有X/Y轴调节小摇轮，可调节显微镜在x-y方向的移动，移动范围2"X2"，精度1μm。
显微镜Z轴带有调焦粗旋钮和细旋钮，粗旋钮方便快速调焦，细旋钮方便精确调焦，移动精度1μm。显微镜变焦范围1.4x-9x，目镜30x，放大范围42x-270x。
台面规格：
探针台台面尺寸120 mm x 180 mm (North and South)
探针台台面容量：4 RF and 2 DC or 2 RF and 4 DC
探针台台面为固定台面。
卡盘规格：
6" 卡盘，卡盘平整度：3μm，不锈钢材质，采用真空吸附方式吸附，带真空吸附孔，中心孔径 250μm-1mm（可根据客户需求定制孔径大小），最小可以吸住尺寸为0.3mmX0.3mm，最大能够吸住尺寸为6"X6"。
卡盘可360度旋转，旋转角度可微调，微调精度为0.01度，带角度锁定旋钮。
卡盘座有小摇杆，提起90度后，可以使卡盘快速线性上升4mm，在做wafer点测时方便快速移动点测位置，同时做普通die或者decap后芯片点测时，方便快速更换样品。
卡盘X，Y轴调节旋钮可以控制卡盘做X-Y方向的移动，移动范围为6"X6"，移动精度为1μm，为方便点测的稳定性，带有锁住功能如果点测6"wafer的时候，可以保证6"wafer的每一点都能够点测到。
性能:
真空吸附卡盘：对应可选4" ，6"，8"，12"产品
卡盘X-Y方向精确线性移动行程：6"-6"
线性无回差调节
卡盘上/下移动行程：4mm
卡盘平整度: 10um
卡盘旋转角度：0~360°
附件：
射频测试探头/电缆
有源探头
CCD/数字相机，USB接口
探针卡/封装/PCB板夹具
加热装置
防震桌
重量：80kg（含显微镜）。
尺寸：760mm宽*660mm长*700mm高（含显微镜）。
优化的人体工学设计，便于工程师长时间舒适操作。
显微镜操控规格：
显微镜后侧有X/Y轴调节小摇轮，可调节显微镜在x-y方向的移动，移动范围2"X2"，精度1μm。
显微镜Z轴带有调焦粗旋钮和细旋钮，粗旋钮方便快速调焦，细旋钮方便精确调焦，移动精度1μm。显微镜变焦范围1.4x-9x，目镜30x，放大范围42x-270x。
台面规格：
探针台台面尺寸120 mm x 180 mm (North and South)
探针台台面容量：4 RF and 2 DC or 2 RF and 4 DC
探针台台面为固定台面。
卡盘规格：
6" 卡盘，卡盘平整度：3μm，不锈钢材质，采用真空吸附方式吸附，带真空吸附孔，中心孔径 250μm-1mm（可根据客户需求定制孔径大小），最小可以吸住尺寸为0.3mmX0.3mm，最大能够吸住尺寸为6"X6"。
卡盘可360度旋转，旋转角度可微调，微调精度为0.01度，带角度锁定旋钮。
卡盘座有小摇杆，提起90度后，可以使卡盘快速线性上升4mm，在做wafer点测时方便快速移动点测位置，同时做普通die或者decap后芯片点测时，方便快速更换样品。
卡盘X，Y轴调节旋钮可以控制卡盘做X-Y方向的移动，移动范围为6"X6"，移动精度为1μm，为方便点测的稳定性，带有锁住功能如果点测6"wafer的时候，可以保证6"wafer的每一点都能够点测到。
性能:
真空吸附卡盘：对应可选4" ，6"，8"，12"产品
卡盘X-Y方向精确线性移动行程：6"-6"
线性无回差调节
卡盘上/下移动行程：4mm
卡盘平整度: 10um
卡盘旋转角度：0~360°
附件：
射频测试探头/电缆
有源探头
CCD/数字相机，USB接口
探针卡/封装/PCB板夹具
加热装置
防震桌